Fujifilm Fujinon XF 56mm f/1.2 R WR objektyvas (10158KVG)

Idealiai tinkantis portretams, FUJIFILM XF 56 mm f/1.2 R WR yra atsparus oro sąlygoms. Išskirtinai itin greita f/1.2 maksimali diafragma puikiai izoliuoja objektą ir sukuria malonų spalvų perteikimą bei „bokeh“ efektą. Optinėje konstrukcijoje naudojami tiek asferiniai, tiek ypač mažos dispersijos elementai, kurie padeda sumažinti įvairias aberacijas, spalvų pakraščius ir iškraipymus, kad būtų pasiektas didelis ryškumas ir aiškumas. Super EBC danga taip pat naudojama siekiant sumažinti blyksnius ir dubliavimą, kad būtų pagerintas kontrastas ir spalvų tikslumas ryškiomis ir foninio apšvietimo sąlygomis. Suapvalinta vienuolikos ašmenų diafragma užtikrina sklandžius ir malonius nefokusuotus akcentus. Šiame visiškai metaliniame objektyve naudojami devyni guminiai sandarikliai, kad jis būtų apsaugotas nuo dulkių ir drėgmės, taip pat išlaikomas visas funkcionalumas net -10°C temperatūroje. Tuo tarpu fluoru dengtas priekinis elementas sukurtas taip, kad atstumtų vandenį, kad ant jo neliktų pirštų atspaudų ir kitų žymių, kad būtų išlaikyta aukšta vaizdo kokybė, kai bus fotografuojama prastomis oro sąlygomis.

 

 

 

 

 

 

 

 

Pagrindinės savybės


- Portretinis objektyvas skirtas APS-C formato Fujifilm X-mount sisteminiams fotoaparatams ir užtikrina 85 mm ekvivalentinį židinio nuotolį.

- Gaunami aukštos raiškos, neiškraipyti rezultatai, kupini detalių ir spalvų. Idealiai tinka portretams, vestuvėms ir bet kuriai kitai kūrybinei fotografijai, reikalaujančiai tikslaus lauko gylio valdymo. XF 56 mm f/1.2 R WR užtikrina neįtikėtiną vaizdo raišką iki minimalaus 1,6 colio fokusavimo atstumo, todėl jis ne tik itin tinka portretams, bet ir gaminių bei komercinei fotografijai.

- Super EBC danga buvo padengta atskiriems elementams, siekiant sumažinti objektyvo blyksnius ir dubliavimą, kad būtų pagerintas kontrastas ir spalvų tikslumas dirbant esant stipriam apšvietimui.

- Suapvalinta vienuolikos ašmenų diafragma užtikrina malonią nesufokusuotą kokybę, todėl lengviau naudoti selektyvų fokusavimą ir mažo lauko gylio metodus.